一、产品概述
试验标准：符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求；
适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
二、技术参数
技术参数
参数分类
参数名称
技术指标
试验箱
配置型号
高温箱一台，水平横向循环风道设计，温度更均匀，试验腔尺寸60cm×60cm×120cm。
试验温度
环境温度～175℃，试验箱温度控制精度：≤±1℃，试验箱温度均匀度：≤±3℃。
温度保护
独立的温度检测、监测、超温报警系统,当试验箱温度超过设定的温度时,自动声报警并切断高温试验箱的供电电源；避免由于高温试验箱温度波动或失控造成被试验器件损坏，使试验箱工作处于多重保护状态。
温度记录
电脑实时检测、记录试验箱温度，实时描绘试验箱的温度-时间曲线，在整个试验过程中实时监控高温试验箱的温度，防止试验箱温度波动导致器件失效。
区域容量
试验区域
标配16个区，可同时试验8种器件。
试验通道
32个通道。
试验容量
一级电源
电源配置
数量16台；规格0～40V/30A。
电源保护功能
每路电源均可恒压、恒流工作，具有过压、过流、短路、过热等保护功能。
电源检测记录
电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。
其他
输出电压的电源规格可按要求选配。
二级电源
电源路数
输出电源路数为：4路。
电源类型
VCC（正工作电源）、VEE（负工作电源）
VMUX（负载电源）、VCLK（信号电平）
输出幅度
VCC：+2.0V～+19.9V/10A、VEE：-2.0V～-19.9V /10A
VMUX：+2.0V～+19.9V /10A、VCLK：+2.0V～+18.0V/5A
保护功能
试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等联动保护功能，确保试验电源的可靠性。
检测记录
电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。
数字信号
信号类型
数据、地址、控制及三态功能。
最高频率
1MHZ
最小编程分辨率
100ns
最大自由编程深度
256K
信号幅度
+2.0V～+18.0V
幅度编程步长
0.5us—524288us
寻址深度
64G（动态RAM/静态RAM）
最大驱动电流
I0L≤150mA，I0H≤100mA
参数分类
参数名称
技术指标
模拟信号
模拟信号数
每块控制检测板提供4路可独立编程的模拟信号。
波形类型
正弦波、三角波、前沿及后沿锯齿波、矩形波等5种。
频率范围
1Hz～32KHz
信号幅度VPP
±0.5V～±10V
幅度编程步长
0.1V
直流偏移量
0～±VPP/2
最大驱动电流
1A
驱动板
配置
16块
电压检测
在线检测全过程曲线记录VCC、VMUX、VCLK、VEE输出电压，检测范围：0.00V～±40.00V；精度：1%±1LSB；
信号检测
数字、模拟信号驱动，输入输出信号检测；系统每通道设计32路信号监测，定点或巡回检测器件输出信号的频率、峰值、谷值，也可通过示波器观察，判断失效情况。
老化板
基板
根据用户要求选配，标配基板TG170，特殊高温可按要求定制。
老化座
老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料。
规格尺寸
280mm×600mm。
总线接口
100Pin+72Pin-2.54。
除此之外还提供
HTRB高温反偏试验系统,正向恒流试验系统,车用整流桥功率循环试验系统,车用二极管功率循环试验系统,集成电路高温动态试验系统,集成电路高温动态老化系统,DC,DC模块高温老化系统,三端稳压器高温寿命老化系统等等电子元器件老化系统,大功率高可靠开关电源,
各种高压试验电源,
各种socket老化座,测试座,老化板,测试板,测试工装,治具,夹具和各种非标定制,方案解决。
十五年行业经验合作客户多为航天,,检测中心,以及上市公司,品质有保障。